评价项目名称

上海微电子装备有限公司新建工业中试研发楼项目

评价类型

职业病危害现状评价报告

项目基本概况：

上海微电子装备有限公司是国内多家企业集团和投资公司共同投资组建的高新技术企业。主要从事用于集成电路芯片制造的光刻机及其他相关设备的开发、设计、制造，并提供光刻机的维护、成套服务等系统解决方案。

地理位置及周边环境描述：

本项目位于上海市浦东新区张江高科技园区张东路1525号。新建工业中试研发楼位于上海微电子装备有限公司厂区基地内。研发楼项目呈长方形，西面距本公司已建一期生产厂房19米，东面隔芳春路为兰村电子公司，南面隔祖冲之路为宽频科技公司，北面为中国电信公司。北、东、南面建筑红线与用地红线相距12米。

评价项目组长

王磊

技术负责人

谷丰

过程控制负责人

张劲智

报告编制人

王磊

审核人

谷丰

项目组成员

戴永光、朱知博

现场调查与检测

第一次现场调查的目的和任务：

目的：现场调查企业周边情况、总体布局、平面布置、物料、设备、工艺流程、防护设施、职业卫生管理等相关信息以及收集与评价相关资料，与企业进行沟通。

任务：现场实地调查，资料收集。

结果：收集资料，确定检测方案。

现场调查人员：王磊、朱知博       时间：2015年9月15日

第二次现场检测的目的和任务：

目的：进行现场职业病危害因素检测。任务：进行检测职业病危害因素检测、现场调查表的填写，缺乏资料的补充。

结果：完成职业病危害因素检测、现场调查表。

现场调查人员：王磊           时间：2015年9月19日

评价报告完成时间：2015年11月27日