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上海新进芯微电子有限公司

2017-10-12 00:51:41

上海赛源环境检测技术有限公司

职业病危害评价报告网上公开信息表

评价项目名称

上海新进芯微电子有限公司

评价类型

职业病危害现状评价报告

项目基本概况:

本项目建成后主要用于:6英寸0.35-0.5微米CMOS/BiCMOS/BCD工艺的集成电路芯片制造,产能2万片/月;8英寸0.25微米CMOS/BiCMOS/BCD工艺的集成电路芯片制造,产能2万片/月。

地理位置及周边环境描述:

上海市闵行区紫星路1600号

评价项目组长

王磊

技术负责人

谷丰

过程控制负责人

张劲智

报告编制人

王磊

审核人

谷丰

项目组成员

张婧、谢泽陶

现场调查与检测

第一次现场调查的目的和任务:

目的:现场调查企业周边情况、总体布局、平面布置、物料、设备、工艺流程、防护设施、职业卫生管理等相关信息以及收集与评价相关资料,与企业进行沟通。

任务:现场实地调查,资料收集。

结果:收集资料,确定检测方案。

现场调查人员:王磊、张婧          时间:2017年5月31日

第二次现场检测的目的和任务:

目的:进行现场职业病危害因素检测。任务:进行检测职业病危害因素检测、现场调查表的填写,缺乏资料的补充。

结果:完成职业病危害因素检测、现场调查表。

现场调查人员:王磊                 时间:2017年5月24日

 

评价报告完成时间:2017年7月24日